Le jeudi 16 novembre 2017, l’Institut Jean Lamour (IJL) a consacré son colloque annuel aux « Matériaux et Microscopie Electronique en Transmission : apports actuels et perspectives ».
Le colloque a rassemblé 124 participants, parmi lesquels de nombreux universitaires et des représentants des entreprises BASF, ArcelorMittal, AscoMetal et SAFRAN, venus écouter quatre orateurs extérieurs et deux orateurs de l’Institut. Le colloque s’est ouvert par un mot d’accueil de Thierry BELMONTE, futur directeur de l’IJL, et l’intervention de Frédéric VILLIÉRAS, vice-président du conseil scientifique de l’Université de Lorraine.
Francisco CADETE SANTOS AIRES, chargé de recherche CNRS à l’IRCELYON (CNRS - Université Lyon 1 - Université de Lyon), a présenté un ensemble de travaux sur l’observation à l’échelle atomique de catalyseurs dans des conditions quasi réalistes de fonctionnement. En effet, les progrès techniques sur les microscopes électroniques en transmission, le porte-objet et les détecteurs permettent aujourd’hui de suivre des réactions in-situ à l’échelle de l’atome unique. Lors de cet exposé, il nous a été possible de voir que des réarrangements atomiques de surface se produisent lors de réactions catalytiques. Ces observations in situ permettent d’envisager comment des oxydes ou des catalyseurs métalliques supportés interfèrent avec leur environnement chimique et révolutionnent la notion de «site catalytique ».
Abdelkrim REDJAIMIA, enseignant-chercheur à l’Institut Jean Lamour (CNRS - Université de Lorraine) a ensuite montré la puissance des différents modes de diffraction électronique dans la détermination de structures cristallographiques inconnues.
Muriel VÉRON, enseignante-chercheuse au SIMAP (CNRS - Grenoble INP - Université Grenoble Alpes) a pris le relais en exposant les apports de la précession du faisceau d’électrons à la microscopie électronique en transmission. Celle-ci permet d’atténuer les effets dynamiques sur les clichés de diffraction. Grâce à cette technique et au développement de nouveaux logiciels de reconnaissance automatique et d’interprétation des clichés de diffraction, il est possible de réaliser des cartographies de phases et d’orientations à l’échelle nanométrique.
Sergio MARCO, directeur de recherche INSERM (Institut Curie Orsay) et responsable de l’unité de microscopie de SANOFI, a dressé un panorama de l’imagerie chimique en STEM et TEM pour répondre aux problématiques biologiques. En effet, du fait de leur nature, les échantillons biologiques sont souvent épais et extrêmement sensibles aux dégâts d’irradiation. Sergio MARCO a ainsi montré les avancées réalisées en terme de techniques de microscopie et de traitement statistique des données pour permettre l’imagerie avec des doses d’électrons les plus faibles possibles.
La session de l’après-midi a débuté avec l’intervention d’Odile STÉPHAN, enseignante-chercheuse au Laboratoire de Physique des Solides (CNRS - Université Paris-Sud). Son exposé était centré sur l’exploitation des techniques de spectroscopie en perte d’énergie électronique et de cathodo-luminescence à haute résolution spatiale et spectrale pour aborder les signatures plasmoniques et comprendre la physique des excitations en nano-optique.
Stéphanie BRUYÈRE, enseignante-chercheuse à l’Institut Jean Lamour (CNRS - Université de Lorraine), a clôturé les exposés en présentant les fonctionnalités du nouveau microscope électronique en transmission JEOL ACCEL ARM 200F, acquis récemment dans le cadre du Pacte Lorraine avec le soutien de l’Union Européenne, de l’Etat, de la Région et de la Métropole du Grand Nancy.
André ROSSINOT, président de la Métropole, a adressé un mot de conclusion aux auditeurs avant de leur emboîter le pas pour une visite du nouveau microscope, suivie d’un cocktail en présence des représentants des sociétés JEOL et GATAN, constructeurs du microscope et de ses équipements.
