Date(s):
Lundi 25 mars 2019
Lieu(x):
Mines Nancy et Institut Jean Lamour
Campus Artem
Nancy
L'Institut Jean Lamour organise, avec le service de formation des personnels de l'Université de Lorraine, une journée scientifique sur le thème de la complémentarité entre rayons X et microscopie électronique.
La participation à cette journée est gratuite. L'inscription s'effectue avant le 6 mars 2019 auprès du service de la formation des personnels, à l'aide de cette fiche.