La plateforme de microscopie électronique de l’Institut Jean Lamour place l’Université de Lorraine au premier plan pour son potentiel de caractérisation des matériaux jusqu’à l’échelle atomique.
Equipée de deux microscopes corrigés, elle permet l’imagerie à haute résolution, la détermination structurale, l’identification chimique à haute résolution spatiale, la réalisation de cartographies de phases et d’orientation. Dotée de caméras et de spectromètres rapides, elle présente un fort potentiel pour l’expérimentation in situ.
A l’occasion de la mise en service de son nouveau microscope électronique en transmission JEOL ACCEL ARM Cold FEG 200F double corrigé, l’Institut Jean Lamour consacre son colloque annuel aux : « Matériaux et Microscopie Electronique en Transmission : apports actuels et perspectives ».
L’objectif de cette rencontre avec des experts internationaux est d’éclairer l’apport des derniers développements en microscopie électronique à la compréhension des propriétés physiques des matériaux, de leur réactivité chimique, mais aussi à celle de la structuration du vivant.