Un logiciel gratuit pour visionner et analyser les données de textures cristallographiques à récemment été développé au Laboratoire d’Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux de l'Université de Lorraine.
Le logiciel s'appelle JTEX, il est gratuit pour une utilisation non commerciale.
Les données d'entrée peuvent provenir de mesures EBSD ou X-ray ou encore de simulations.
Le logiciel permet notamment le calcul de la fonction de densité d'orientation (ODF) depuis les figures de pôles incomplètes (mesures X-ray), le tracer des figures de pôles, des sections dans l'espace d'Euler et de pôle figures inverses. Des outils de quantifications et d'analyses comme le calcul des fractions volumiques des orientations idéales, la corrélation entre deux textures, l'évaluation des propriétés moyennes du polycristal...sont également disponibles. Un module de simulation de déformation plastique (modèles de Taylor et Auto-cohérent) est également inclus qui permet de simuler les textures de déformation.
Le logiciel est téléchargeable à cette adresse : http://www.jtex-software.eu/, onglet "download".
Des films de démonstrations sont visionnables dans l'aide en ligne http://www.jtex-software.eu/, onglet "help"