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Journée scientifique sur la complémentarité entre rayons X et microscopie électronique


Temps de lecture : 1 minute

Informations pratiques

Localisation : Mines Nancy et Institut Jean Lamour Campus Artem Nancy
Date de début : 25/03/2019

Toutes les dates

  • 25/03/2019

Tous les lieux

  • Mines Nancy et Institut Jean Lamour

    Campus Artem

    Nancy

L’Institut Jean Lamour organise, avec le service de formation des personnels de l’Université de Lorraine, une journée scientifique sur le thème de la complémentarité entre rayons X et microscopie électronique.

La participation à cette journée est gratuite. L’inscription s’effectue avant le 6 mars 2019 auprès du service de la formation des personnels, à l’aide de cette fiche.

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