Prix 2015 M&M Meeting / Presidential Scholar Award accordé à Haithem MANSOUR

 
Publié le 19/05/2015 - Mis à jour le 17/05/2023

Ce prix a été accordé par The Microscopy Society of America (MSA) pour l’article « Characterization of a Sub‐Grain Boundary Using Accurate Electron Channeling Contrast Imaging ».
Haithem MANSOUR est en 3ème année de doctorat au LEM3 dans l’équipe 3TAM. Il contribue activement au développement de nouveaux outils de caractérisation fine de la microstructure des matériaux en Microscopie Electronique à Balayage et à la compréhension des relations microstructure-propriétés de matériaux tels que TiAl, Acier IF ou UO2. 

Le travail accompli dans ce cadre a permis de mettre en place pour la 1ère fois dans un microscope moderne (Zeiss Auriga avec colonne GEMINI) un mode Rocking Beam pour l’acquisition de clichés SACP (Selected Area Channeling Pattern) avec des résolutions, spatiale unique de 500nm et angulaire meilleure que 0.1°. 

L’échantillon étudié en MEB est ainsi orienté de façon à satisfaire les conditions très strictes de canalisation des électrons. Des fautes d’empilement, macles, dislocations ... peuvent être révélées par ECCI (Electron Channeling Contrast Imaging) dans des matériaux massifs. 

Dans le cas des dislocations, des procédures similaires à celles de la microscopie électronique en transmission sont appliquées en s’affranchissant de la préparation fastidieuse de lames minces. Il devient possible de mener des études statistiques en caractérisant différentes zones de l’échantillon qui peut être semi-conducteur ou métallique, massif ou une couche mince.

http://www.lem3.fr/index.php?page=distinctions#MMSCHOLARAWARD